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发 货 期： |
1天内发货 |
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所 在 地： |
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有效期至：
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2039 年 07月 16日 |
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详细信息
| 概 述： | 本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。 |
| 适用范围： | HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 |
| 主要功能： | 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量；
三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准；
显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm）
1μm （测量范围大于100μm）
有两种工作方式：直接方式和成组方式
有两种测量方式：连续测量和单次测量
有两种关机方式：手动关机和自动关机
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析；
有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理；
打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 |
| 测量范围： | （1）F400探头、N400探头：0—400μm
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm
（3）F10探头：0—10000μm
（4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头） |
| 测量精度： | 不同探头精度要求不同
（1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７）
（2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1）
（3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10） |
| 使用温度： | 0～40℃ |
| 外型尺寸： | 150×80×30m |
| 重 量： | 250g |
功能 | HS2100F | HS2100N | HS3100 | HS4100 |
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测量原理 | 磁性 | 涡流 | 磁性/涡流 | 磁性/涡流 |
测量范围 | 标准配置探头（F1/N1)：1～1250μm |
测量精度 | ±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准） |
统计量 | 平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV) |
存贮和统计 | 15个测量值 |
测量精度 | ±（2%H+1）μm（零点校准）
±[(1～3)%H+1] μm（二点校准） |
零点校准 | √ | √ | √ | √ |
二点校准 | √ | √ | √ | √ |
删除功能 | √ | √ | √ | √ |
自动关机 | √ | √ | √ | √ |
蜂鸣声提示 | √ | √ | √ | √ |
测量方式 | √ | √ | √ | √ |
欠压指示 | √ | √ | √ | √ |
错误提示 | √ | √ | √ | √ |
标准配置 | 主机
F1探头
基体
校准片
说明书
包装箱 | 主机
N1探头
基体
校准片
说明书
包装箱 | 主机
F1(N1)探头
基体
校准片
说明书
包装箱 | 主机
打印机
F1(N1)探头
基体
校准片
说明书
包装箱 |
选配件 | F1、F400、F10测头
N1、N400测头
| 通讯软件
F1、F400、F10测头
N1、N400测头 |
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